MPCVD制备金刚石中的光谱分析
2017-03-01黄宏伟张田田丁康俊马志斌付秋明
黄宏伟,张田田,丁康俊,马志斌*,付秋明
1.武汉工程大学材料科学与工程学院,湖北武汉 430074;2.等离子体化学与新材料湖北省重点实验室(武汉工程大学),湖北武汉 430074
MPCVD制备金刚石中的光谱分析
黄宏伟1,2,张田田1,2,丁康俊1,2,马志斌1,2*,付秋明1,2
1.武汉工程大学材料科学与工程学院,湖北武汉 430074;2.等离子体化学与新材料湖北省重点实验室(武汉工程大学),湖北武汉 430074
在微波等离子体化学气相沉积(MPCVD)多晶金刚石的过程中,利用发射光谱法(OES)诊断等离子体中活性基团的分布情况,研究了沉积气压、CH4体积分数以及气体流量对等离子体中基团谱峰强度的影响,讨论了相关基团与金刚石沉积速率和质量之间的关系.结果表明:在微波功率800W下,气压从12 kPa增加到16 kPa,等离子体中各基团浓度均显著增加,有利于提高金刚石的沉积速率.气压16 kPa、功率800 W时,CH4体积分数从2%增加到7%,C2基团峰值强度从12 600 cps增加到24 800 cps,而氢原子峰值强度从60 000 cps变为61 000 cps,导致C2基团与氢原子浓度比值从0.21增加到0.40,金刚石的沉积速率虽然提高,但沉积质量下降.当沉积气压和CH4体积分数分别从16 kPa、4%提高到18 kPa、6%时,C2基团峰值强度从28 000 cps增加到37 000 cps,同时保持了C2基团与氢原子浓度比值约0.28不变,既保证了金刚石沉积质量又显著提高了金刚石的沉积速率.等离子体体系中基团浓度基本不受气体流量变化的影响.
微波等离子体化学气相沉积;发射光谱;CH4体积分数;活性基团
在微波等离子体化学气相沉积法(m icrowave plasma chemical vapor deposition,MPCVD)沉积金刚石时,利用等离子体发射光谱在线诊断……
