集成电路芯片测试仪设计

2016-11-30

传感器世界 2016年10期

湖南文理学院物理与电子科学学院，湖南常德 415000

一、引言

在产品研发和学生实验过程中，常常需要检测逻辑芯片的功能以及芯片是否正常[1-2]。传统依靠人工检测的方式直接影响芯片的有效回收利用，进而影响实验电路的功能能否正确，因此设计一个集成电路芯片测试仪来显示其型号具有非常重要的实际意义。集成电路芯片较多，难以进行统一处理和检测[3]，所以给芯片测试仪的实现造成了很大的阻扰，本文采用编码检测方式来解决这一问题。

本文设计了一种集成电路芯片测试仪，采用编码检测，即每个芯片都有不同的编码，因此只要能检测到这些编码就可以识别芯片；该测试仪一共可以测试41种不同的集成电路芯片。

系统主要包括两部分功能：第一能够自动地对指定的74LS系列10种组合逻辑芯片进行功能测试，确定其功能正确性，测试速度为10k测试向量/ s，确定上述74系列的组合逻辑芯片的型号，显示上述芯片的逻辑符号和逻辑表达式；第二能够自动识别指定74LS74、74LS109、74LS160、74LS245、CD 系列、LM系列、NE系列等芯片进行逻辑功能测试，确定其功能正确性，进一步提高测试速度，可以确定上述74系列时序逻辑芯片的型号，增加了通过SI4463无线串口模块将识别的芯片型号发送到上位机串口助手显示。