刘　钰，韩　峰，陆希成

(西北核技术研究所,西安710024)



多态系统电磁脉冲易损性概率置信下限的贝叶斯估计

刘钰，韩峰，陆希成

(西北核技术研究所,西安710024)

针对多态系统电磁脉冲易损性评估问题，提出了基于贝叶斯理论的多态系统电磁脉冲易损性概率置信下限估计方法。分别基于贝叶斯方法及经典统计方法，给出了多态系统电磁脉冲易损性概率置信下限及效应实验达到给定状态概率所需最小样本量的计算方法。通过算例，对文中提出的方法进行了验证和比较。在无信息先验条件下，贝叶斯方法与经典方法计算结果较为接近，概率置信下限和所需最小样本量的估计结果主要依赖于当前实验信息；当先验信息具有显著倾向时，若当前实验信息与先验信息一致，则基于贝叶斯方法计算的概率置信下限更加准确，且所需最小样本量明显少于经典统计方法的计算结果。

贝叶斯方法；多态系统；易损性；概率置信下限

随着大规模集成电路的发展，电子设备的结构越来越微型化、复杂化，电子系统抗电磁脉冲能力不断降低[1-3]，强电磁脉冲与孔缝、天线和线缆作用，极易使系统出现干扰、翻转、扰乱、降级和损坏等多种效应状态[4-6]，电磁脉冲辐射场已对现代电子设备的安全运行构成了一定的威胁[7-11]。

电子系统在给定电磁脉冲辐射水平作用下，各状态的发生概率或概率置信下限，是表征电子系统电磁脉冲易损性或系统抗电磁脉冲能力的主要量化指标[12-13]。……