基于错误传播分析的SDC脆弱指令识别方法
2016-10-13马骏驰蔡震波张庆祥
计算机研究与发展 2016年9期
马骏驰 汪 芸 蔡震波 张庆祥 王 颖 胡 诚
1(东南大学计算机科学与工程学院 南京 211189)2(计算机网络和信息集成教育部重点实验室(东南大学) 南京 211189)3 (中国空间技术研究院总体部 北京 100094)
基于错误传播分析的SDC脆弱指令识别方法
马骏驰1,2汪芸1,2蔡震波3张庆祥3王颖3胡诚1,2
1(东南大学计算机科学与工程学院南京211189)2(计算机网络和信息集成教育部重点实验室(东南大学)南京211189)3(中国空间技术研究院总体部北京100094)
(jcma@seu.edu.cn)
单粒子软错误是高辐照空间环境下影响计算可靠性的主要因素.随着芯片晶体管数的快速增长,单粒子软错误的威胁日益严重.结果错误(silent data corruption, SDC)是单粒子软错误造成的一种故障类型.由于SDC是隐蔽传播的,SDC的检测是单粒子软错误防护的难点.寻找SDC脆弱指令是目前检测SDC的重要途径.现有方法需要进行巨量的错误注入,时间代价巨大.首先根据数据关联图建立了指令的数据依赖关系,研究了函数间和函数内部错误传播过程;进而推导出判定SDC脆弱指令的充分条件,提出了SDC脆弱指令识别方法,该方法在错误注入中依据充分条件推测潜在的SDC脆弱指令.实验表明,在保证较高准确率和覆盖率的前提下,时间代价显著减少.
单粒子翻转;单粒子软错误;SDC脆弱指令;错误注入;错误传播
单粒子翻转(single event upset, SEU)是由宇宙中的质子、电子、重离子等高能粒子轰击半导体器件造成PN结瞬间充放电现象.单粒子翻转引起的半导体电路瞬态故障称为单粒子软错误[1-3](以下简称软错误……
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