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浅谈双频激光干涉测量系统中的常见误差

2016-09-07陈庭容上海交通大学上海200240

山东工业技术 2016年14期
关键词:测量环境

陈庭容(上海交通大学,上海 200240)

浅谈双频激光干涉测量系统中的常见误差

陈庭容
(上海交通大学,上海 200240)

激光干涉测量以其测量范围大,高分辨率以及高精度测量等特点普及到很多高精度测量的行业中。随着测量精度和分辨率的提高,测量过程中的任何误差都将对最终的测量结果造成一定程度上的影响。通过介绍了激光干涉测量中一些常见的误差,并通过对这些误差的分析,来降低或修正误差,使我们的测量结果能更精确可靠。

高精密测量;激光干涉测量;阿贝误差;余弦误差

0 引言

干涉测量技术是以光波干涉原理为基础进行测量的一门技术,而激光的原理在1916年被爱因斯坦发现后,于1960年被首次成功制造,成为20世纪以来人类最重大的发明之一。随着实验条件的提升,电子与计算机技术日新月异的发展,使得干涉测量技术得到迅猛发展。在现代超精密加工过程中,普遍采用纳米级分辨率的双频激光干涉仪进行高精度位移测量。但越高精密的测量,需要我们考虑的误差因素也就更多。

1 激光干涉仪原理

激光干涉仪产生的干涉条纹变化频率与测量反射镜的运动速度有关,整个过程由光强转化出的直流电信号的频率变化也是从零开始变化,这个直流电信号只能用直流放大器来放大处理。直流测量系统就会有直流光平和电平零飘的弊端,受到外界环境所约束,若激光束强度发生变化时,干涉条纹的条纹的平均光强的变化也会很大,从而导致测量的偏差,而这种无规则的变化又难以通过自动调整来补偿。……

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