李　彬　郑海东　范志永　郝凤龙　贾二慧

(公安部第一研究所，北京 100044)



用于双模式离子漂移管系统的法拉第盘离子检测器

李彬郑海东范志永郝凤龙贾二慧

(公安部第一研究所，北京 100044)

双模式离子漂移管系统含有脉冲高压电场、大电流加热和气路驱动3种强电磁干扰源。为了提高离子检测器的灵敏度，必须抑制漂移管迁移区的脉冲高压电场、大电流、静电及其它环境噪声。本实验研制了一种新型的法拉第盘离子检测器，可有效抑制上述噪声，满足现有双模式离子漂移管系统对离子检测器的要求。

双模式离子漂移管系统法拉第盘离子检测器噪声抑制

1 引言

离子迁移谱检测技术(ion mobility spectrometry，IMS)是上个世纪60年代末70年代初发展起来的一种痕量化学物质分析检测技术[1,2]。该技术基于气相中不同的气相离子在电场中迁移速度的差异来对化学离子物质进行表征[3]。IMS具有便携、快速、低功耗、低成本、高灵敏度等优点，IMS仪器已经在爆炸物、毒品以及有毒化学气体检测方面得到了广泛的应用[4,5]。

双模式离子迁移谱的基本原理是通过检查带电离子在脉冲高压电场下迁移率的不同实现对物质种类的识别，高灵敏度的双模式离子漂移管系统必然对离子检测器提出更高的要求。由于双模式离子漂移管系统含有脉冲高压电场、大电流加热和气路驱动3种强电磁干扰源，为了实现高灵敏度的检测，必须抑制迁移区的脉冲高压电场、人体静电及其它环境噪声。又因为离子迁移谱检测环境为大气压条件下，这限制了电子倍增器等离子检测器件的应用[6，7]。……