胡继林，胡传跃，田修营，彭红霞，吴腾宴（湖南人文科技学院化学与材料科学系，湖南娄底417000）

化工分析与测试

激光粒度仪测定超细碳化硅粉体粒度研究*

胡继林，胡传跃，田修营，彭红霞，吴腾宴
（湖南人文科技学院化学与材料科学系，湖南娄底417000）

以蒸馏水为分散介质，采用激光粒度仪对超细碳化硅粉体粒径进行测定。考察了超声波分散功率、超声波分散时间、分散剂种类、分散剂用量、遮光比等因素对超细碳化硅粉体粒径测定的影响。确定了测试超细碳化硅粉体粒径的最佳条件：超声波分散功率为200 W，超声波分散时间为10 min，选择质量浓度为2.0 g/L的聚乙二醇2000作为分散剂，遮光比为10.0%。在此条件下超细碳化硅粉体的粒度分析结果重现性好、数据比较准确。

激光粒度仪；碳化硅；粒度分析；分散剂

碳化硅（SiC）具有优异的综合性能，在机械、化工、能源和军工等领域得到大量应用，是很有前途的工程材料［1］。超细SiC粉体粒径大小及其分布对制备材料质量和性能产生重要影响。SiC粉体粒径越小，晶粒间相互作用越强烈，晶粒发生团聚现象越明显，因而一般条件下对超细粉体的粒度分析结果难以准确反映该样品真实粒度信息［2］。目前粉体粒度测试方法很多，主要有筛析法、显微镜法、沉降法、激光法等。激光法是应用最广泛的一种方法，具有测试速度快、操作方便、重复性好、测试范围宽等优点，是现代粒度测试主要方法之一［3-5］。张玉敏等［2］、周新木等［6］、于晓微等［7］采用激光粒度仪分别测定了超细钛硅分子筛、纳米氧化锌和超细锰酸锂粉体粒度及其分布。……