发射光谱法分析化探样品中的银锡元素
2016-08-07徐春秀
徐春秀
(广东省地质局第五地质大队,广东肇庆 526020)
发射光谱法分析化探样品中的银锡元素
徐春秀
(广东省地质局第五地质大队,广东肇庆 526020)
选取一米平面光栅摄谱仪器可进行两次重叠摄谱测定,选取氧化锗0.007g,焦硫酸钾23g,分析纯氟化钠20g,分析纯氧化铝45g,石墨粉15.6g作为缓冲剂,最终依据国家标准GBW07301经过15次测定,选取多个样本,多角度,多方位进行测量,银锡元素检出限分别为Ag:0.02μg/g,Sn:0.23μg/g,精密度为Ag:5.7%,Sn:6.7%。
发射光谱法;化探样品;银锡元素
发射光谱法采用硫酸钾、氟化钠、氧化铝、石墨粉、氧化锗等实验材料,选用细颈杯状电极进行两次重叠摄谱,并且用锗做内部标本,截取曝光,在降低光谱背景的同时,获得了稳定的弧焰,此方法能够大大提升分析化探样品中银锡元素的准确性,是一种比较适合的分析银锡元素的方法。
1 实验内容
1.1 实验仪器及实验条件
实验所用仪器是北京瑞利分析仪器公司生产的WP1型一米平面光栅摄谱仪。其规格为中心波长260nm,光栅刻线1 200条/mm,中间光栅为2mm。实验中设定实验条件为,在狭缝宽度为10μm的情况下,从起弧5s到30s的情况下,将电流由4A升高到14A,整个过程共截取曝光度为33s。
在得到曝光的情况下,需要对曝光进行分析,选取GBZ-I型自动译谱仪进行译谱。两根电极进行重叠摄谱,设定狭缝宽度为18μm,高度为12mm,由于数据量较大,来用计算机对数据进行处理分析,采用样条函数法进行自动拟合处理。得出化探样品中银锡元素的分析线Ag327.97/Ge303.86和内标线Sn283.98/Ge270.96。
1.2 实验材料
1)电极规格:选用细颈杯状光谱纯石墨电极,分为上下电极两部分。……
