基于产品性能退化轨迹的可靠性研究
2016-08-06刘合财
安徽师范大学学报(自然科学版) 2016年4期
刘合财
(贵阳学院 数学与信息科学学院,贵州 贵阳 550005)
基于产品性能退化轨迹的可靠性研究
刘合财
(贵阳学院 数学与信息科学学院,贵州 贵阳550005)
摘要:为了解决高可靠和长寿命产品的可靠性评估问题,采用性能退化试验方法,基于产品性能退化量的退化轨迹,得出了线性、指数型性能退化轨迹绝对失效标准和相对失效标准下的首达时间分布定理,并分别得到了随机参数服从正态、Weibull和指数分布下的几个推论.研究结果表明:根据产品性能退化随机过程和退化轨迹、失效标准计算首达时间来评估其可靠性是一条有效的途径.该成果对产品的可靠度等指标的评估具有一定的参考价值和实际意义.
关键词:退化轨迹;首达时间;失效标准;可靠性
引言
对机器维修、设备更换、材料磨损、军事装备等问题的研究凸显了可靠性理论的重要性,可靠性理论的应用已从军事技术扩展到国民经济的许多领域[1-5].随着科学技术的不断进步和发展,电子产品等普遍表现出了高可靠、长寿命的特点,利用退化试验来进行可靠性预测是一条行之有效的途径,主要应用在发光二极管、逻辑集成电路、电源等产品的可靠性研究上.如果产品在工作或贮存过程中性能随着时间的推移而逐渐劣化,直到无法正常工作的状态,称这种失效为退化失效[6].其功能是通过产品的某个性能指标来表示,反映产品功能下降的性能指标值称为退化量.产品的退化……
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