王树朋,黄　凯,严晓浪

(1.浙江大学 信息与电子工程学系,浙江 杭州 310027； 2. 浙江大学 超大规模集成电路研究所,浙江 杭州 310027)



基于遗传算法的覆盖率驱动测试产生器

王树朋1,黄凯1,严晓浪2

(1.浙江大学 信息与电子工程学系,浙江 杭州 310027； 2. 浙江大学 超大规模集成电路研究所,浙江 杭州 310027)

摘要:为了更好地建立覆盖率和测试产生器之间的联系,产生高质量的测试,提出基于遗传算法的覆盖率驱动测试产生器.该测试产生器利用一种简单、准确的测试编码方法对测试进行编码,并利用基于功能覆盖率的适应度函数评估测试的优劣.通过遗传算法(GA)建立覆盖率与测试产生器之间的联系,分析覆盖率和测试之间的关系,根据分析结果改变测试产生器的约束和限制,驱动测试产生器生成新一代的测试,新一代的测试可以覆盖到上一代的测试无法覆盖的功能点.实验结果表明：在2个高性能的32位多核处理器的验证环境中,该测试产生器可以明显减少仿真时间,提高验证效率．

关键词：覆盖率；测试产生器；遗传算法(GA)；覆盖率驱动测试产生器；适应度函数

随着嵌入式系统的规模越来越庞大,功能验证已经成为嵌入式系统设计周期中最主要的挑战,功能验证的方法直接决定了嵌入式系统的面市时间.目前主要使用基于仿真的验证方法验证嵌入式系统的功能,这种方法是通过仿真大量的测试得到期望的覆盖率,其效果和所使用的测试的质量息息相……