冯寒亮，周　辉，石跃武，王　伟，相　辉，朱志臻

(西北核技术研究所，西安710024;强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室，西安710024)



OP07运算放大器电磁脉冲效应实验研究

冯寒亮，周辉，石跃武，王伟，相辉，朱志臻

(西北核技术研究所，西安710024;强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室，西安710024)

摘要：以BJT型OP07号运算放大器为研究对象，建立了一套适合集成运算放大器电磁脉冲损伤效应实验的系统和方法。通过方波脉冲直接注入，研究了电磁脉冲对运算放大器的瞬态干扰和损伤。观察OP07运放的实时工作状态，捕获到增益减小、直流输出、输出信号Y向偏移和输出信号波形失真四种典型的现象。

关键词：电磁脉冲；损伤效应；BJT；运算放大器

运算放大器是现代集成电路的重要组成部分。随着电磁环境的日益复杂化，运算放大器面临的电磁威胁也就越来越严重。因此，分析运算放大器的电磁脉冲效应，研究其对电磁脉冲的易损性，对提高信息化电子设备和系统的可靠性具有重要意义。国外从20世纪70年代就开始对集成电路的EMP损伤效应及阈值进行研究[1-2]。美国于1978年出版的《集成电路电磁敏感性手册》，涉及大量关于运算放大器射频干扰实验的数据。实验发现，被测的运算放大器对传导进输入端的射频干扰能量特别敏感[3]。Ruediger等研究发现，对于静电等产生的超短电压尖脉冲(10V, 100ns)会使741运算放大器电源线路或运放输出产生直接或间接的扰动[4]。Masetti等针对不同工艺的集成运算放大器，分析了电磁干扰敏感性与大信号运放特性之间的关系[5]。……