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电流波形和试块对三相全波整流电磁粉检测系统性能测试的影响

2016-06-04李本事赵希龙

无损检测 2016年5期

李本事,华 娜,赵希龙

(1.成都航利集团, 成都 611936;2.成都飞机制造有限公司, 成都 610091)



电流波形和试块对三相全波整流电磁粉检测系统性能测试的影响

李本事1,华娜2,赵希龙1

(1.成都航利集团, 成都 611936;2.成都飞机制造有限公司, 成都 610091)

摘要:介绍如何通过试验发现电流波形(峰值作用)与试块两个因素对磁粉检测系统性能的重要影响;并通过分析其影响原理,帮助磁粉检测人员更好地控制磁粉检测系统的性能。结果表明,试块对评价三相全波整流电磁粉检测系统的性能有着重要影响,应确保用于系统性能测试的试块符合标准要求。

关键词:三相全波整流;系统性能;AS 5282试块;电流波形;峰值作用

随着国内企业与欧美航空企业业务往来的增多,行业内广泛应用ASTM E 1444《Standard Practice for Magnetic Particle Testing》标准测试三相全波整流系统性能[1]。在ASTM E 1444中Ketos 01试块和AS 5282试块是磁粉检测系统性能测试中最常用的两种试块。两者外形尺寸相似,材料均为工具钢;主要区别在于2005版ASTM E 1444标准中仅明确了Ketos 01试块的外形尺寸,未明确试块的材料标准和状态,而2007版AS 5282《Tool Steel Ring for Magnetic Particle Inspection》标准中则详细规定了AS 5282试块的材料标准、热处理状态、硬度及孔边漏磁场的范围。用Ketos 01试块时,要求测试1 400 A(3孔)、2 500 A(5孔)、3 400 A(6孔)三个点,用AS 5282试块时,要求测试500 A(3孔)、1 000 A(5孔)、1 500 A(6孔)、2 500 A(7孔)、3 500 A(9孔)五个点, 其中AS 5282试块因测试范围更宽而得到更广泛的认可。然而,使用AS 5282试块测试时,部分FWDC(三相全波整流电)磁粉检测系统达不到500 A显示3孔的要求,在1 000 A以上则基本能满足要求,故笔者认为有必要对磁粉检测系统性能测试做深入研究,以确定FWDC磁粉检测系统性能测试不达标的深层原因。……

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