韩春苓, 宁卫东, 诸葛月英, 张宁, 万莉, 庄献华

(中国石油集团测井有限公司华北事业部, 河北 任丘 062552)

0 引 言

在大多数注水井中,油管下过射孔层,由于受到同位素沾污和进层的影响,很多情况下,传统放射性同位素微球示踪测井(简称同位素测井)资料不能真实反映注水井各层的吸水情况[1-2]。加测井温后,虽然部分解决了上述沾污和大孔道问题,但是根据井温资料只能作出定性解释,不能准确确定井下各层的吸水情况。放射性连续示踪流量测井[3-5](简称示踪流量测井)能在笼统注入井和分层注入井中使用,直观测量到水流量,虽然能准确确定分层流量,但存在分层能力差、注入管柱工具与注入层临近或深度上重叠时难以正确解释分层注入量、对微量吸水的层解释不清、油管内流量高时测速误差大等缺点。脉冲氧活化测井存在启动排量大、在低流量的注水井中误差大等缺点[6]。

为提高注水剖面的测井质量,经过不断完善测井方法,将测井仪中单释放器改进为双释放器,开发了双示踪测井技术。这是一种在示踪流量测井获取层间流速的基础上,利用同位素测井资料划分吸水层厚度及吸水韵律的新型测井方法。采用双示踪测井技术测注入剖面可以录取到较完善的资料,有效解决同位素微球沾污及进层的问题,在华北油田的实际应用中取得了良好的效果。

1 测井方法及井下仪器

同位素测井使用磁定位、温度、自然伽马等传感器和同位素微球释放器(即颗粒源仓),采集磁定位、井温、同位素测井资料;在示踪流量测井中,需要释放液体同位素,测取示踪流量资料;若想完整录取这些测井资料,通常需要2次下井,测井时间长。……