王征宇，赵　桦

（中国电子科技集团公司第58研究所，江苏无锡214035）



NOR型FLASH存储器测试技术

王征宇，赵桦

（中国电子科技集团公司第58研究所，江苏无锡214035）

摘要：NOR型FLASH存储器因其能够长久地保持数据的非易失性（Non-Volatile）特点，被广泛用作各类便携型数字设备的存储介质，但由于此类器件的编程及擦写均需写入特定指令，以启动内置编程/擦除算法，从而使得采用自动测试系统对其进行测试也具有较高难度。因此，研究NOR型FLASH存储器的测试技术，并开发此类器件的测试平台具有十分重要的意义。首先以AMD公司的AM29LV160DT为例，介绍了NOR型FLASH存储器的基本工作原理，接着详细阐述了一种采用J750EX系统的DSIO模块动态生成测试矢量的方法，从而能够更为简便、高效地对NOR型FLASH存储器的功能进行评价。

关键词：NOR型FLASH；DSIO

1　概述

FLASH闪存（Flash Memory）是一种非易失性（Non-Volatile）闪存，与各类DDR、SDRAM或者RDRAM等存储器不同，它在没有电流供应的条件下也能够长久地保持数据，因此被广泛用作各类便携型数字设备的存储介质，特别是移动存储、MP3播放器、数码相机、掌上电脑等新兴数字设备。目前市场上有两种主要的非易失性闪存：NOR型和NAND型。根据其自身的技术特点，均在市场中占有举足轻重的地位。其中，NOR型为芯片内执行（XIP, eXecute In Place），即应用程序可直接在闪存内运行，不必再把代码读到系统RAM中，因此传输效率较高，但同时也使其无法像SRAM、SDRAM等存储器那样可以直接对地址单元进行读写操作，随写随读。这使得对于此类器件的测试具有一定难度。本文以AMD公司的AM29LV160DT为例，介绍了一种基于Teradyne公司J750EX测试系统的DSIO模块，来实现对此类FLASH存储器功能进行评价的测试方案。……