刘　伟，李　斌

(中国电子科技集团公司第五十四研究所，河北 石家庄050081)



一种改进的基于遗传算法的测试调度方法

刘伟，李斌

(中国电子科技集团公司第五十四研究所，河北 石家庄050081)

摘要：提出了一种改进的基于遗传算法的SoC测试调度方法，通过该方法可以有效地优化测试总线的划分，合理调度各个IP核以实现并发测试，能够有效地缩短芯核测试时间。该算法把测试调度问题的可行解集用种群表示，逐代演化产生出越来越好的近似解。详细分析了该算法过程，对2002年国际测试会议(ITC’02)所提供的SoC国际基准电路进行测试调度实验，实验结果表明，此算法比传统的整数线性规划(ILP)和遗传算法的结果要好。

关键词：遗传算法；SoC测试；测试调度

0引言

随着半导体工艺技术的发展，IC设计者越来越倾向于使用内嵌的IP(intellectual property)核设计系统级芯片(system on chip,SoC)。这很大程度地缩短了产品进入市场的时间，同时也给SoC的测试带来很多新的挑战。通常，在一个SoC芯片上有几十个IP核，因此，为了减少测试时间，降低测试成本，如何分配测试资源和安排各个IP核的测试顺序成为一个很重要的问题。很多研究人员在测试调度方面做了很多工作。K.Chakrabarty把测试调度问题看成线性规划问题使测试时间最小化[1-3]。Lei Jia等提出了一种用遗传算法(genetic algorithm,GA)解决测试调度问题的方法[4]。

本文基于对传统遗传算法的分析，提出了一种改进的遗传算法，问题的解通过序列对表示。

1SoC测试优化问题划分

在IEEE1500标准中，提出了一种基于测试外壳(Wrapper)的测试结构。……