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STM32的瞬态运动参数存储测试系统设计

2015-09-12孙倩华孔振民高宗李晨阳

单片机与嵌入式系统应用 2015年11期
关键词:信号设备系统

孙倩华,孔振民,高宗,李晨阳

(北京航天长征飞行器研究所,北京100076)

孙倩华(工程师),研究方向为硬目标灵巧引信设计。

引 言

存储测试技术是在特殊环境下记录运动物体参数行之有效的方法,先将测试数据存入存储器,待装置回收后通过特定接口与上位机进行通信,还原数据信息。在诸多领域的测试中,对数据采集存储系统的实时性和功耗提出了更高的要求,随着半导体技术的发展,各种技术的进步使得高速度、低功耗的存储测试系统能够实现。

本系统选择ST 公司超低功耗的基于ARM Cortex-M3四核的处理器STM32F103C8T6作为核心控制元件,采取内部A/D 转换器与铁电存储器结合的方法,实现压阻式加速度传感器测试数据的采集、存储,并利用Lab-View 开发平台设计上位机应用软件实现测试数据的USB回读及处理。

1 系统原理

存储测试系统由电源管理模块、调理模块、外部晶振、微控制器、存储模块、上位机模块以及接口电路组成,如图1所示。

图1 系统原理框图

系统采用单电池电源供电,电路内部经过多路电源管理单元的稳压处理后为系统各个模块供电,实现多分支电源网络管理,以保证系统良好的抗干扰性能。系统的控制核心为STM32F103C8T6,传感器信号经调理模块进入微控制器的12位μs级的A/D 转换器后,经过处理和格式转换后循环记录在铁电存储器FM25V10内,一旦传感器感受的加速度值达到设定阈值,则系统将被触发,并会自动持续记录一段时间,装置回收后则利用LabView 上位机应用软件实现测试数据的USB回读及处理。……

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