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基于电机驱动芯片的扫描测试实现

2015-09-05张凯虹王建超

电子与封装 2015年11期

陈 真 ,张凯虹,王建超

(1. 江南大学物联网工程学院,江苏 无锡 214122;2. 中国电子科技集团公司第58研究所,江苏 无锡 214035)

1 引言

基于我国电机产品种类繁多,应用领域广泛,根据型号、规格、功率、轴伸、绝缘、编码器、转速开关、热敏元件、加热带等参数的不同可划分出各种各样的类型。同时新能源汽车产业市场良好,带动驱动电机市场规模迅速增长。作为高性能电机系统的灵魂,驱动芯片将扮演越来越重要的作用[1~2]。

驱动芯片的测试难点是要保证测试的稳定并且能排查其他因素的干扰。主要测试项是扫描测试。本文介绍的扫描测试方法在保证测试结果一致的同时缩短芯片的测试时间,有效提高测试效率,以达到降低测试成本的目的。

本文结合长川CTA8280测试机和对应的测试编程软件,编写扫描测试程序,实现电机驱动芯片的扫描测试。

2 电机驱动芯片的基本构成及工作原理

图1是电机驱动芯片的基本构成及工作原理 图[3],由 图 可 以 看 出Vin/Vip(Channel Input)和Vbias(Reference Input)经过OPA得到一输出电压Vo,然后再经过电平移位(Level Shift)得到正反两路输出Out+和Out-。一般为了获取较大的输出功率,都会采用桥式(BTL)输出方式。在实际应用中,通常将此芯片的信号输入口连在外部电源上。Vbias由稳定电压源提供一定电压值作为参考点,而Vin/Vip由程控源控制,Out+和Out-分别接着电机的两端,通过OPA的传输特性我们知道,输入脚Vin/Vip值的微小变化都会引起输出脚相应的变化,所以通常通过改变Vin/Vip值就可得到不同需求的输出值,从而可以控制电机的转速及正反转驱动。……

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