张 吉，罗喜明，王 军，唐 力，张一波（. 湖北航天技术研究院计量测试技术研究所，湖北 孝感 43000；. 中船重工西安东仪科工集团有限公司，西安 70065）

SRAM存储器动态参数测试向量分析

张 吉1，罗喜明1，王 军1，唐 力1，张一波2
（1. 湖北航天技术研究院计量测试技术研究所，湖北 孝感 432000；2. 中船重工西安东仪科工集团有限公司，西安 710065）

摘 要：半导体存储器一般由存储体、地址译码驱动器、读/写放大器和控制电路组成，是一种能存储大量信息的器件，它是由许多存储单元组成的。半导体存储器的测试有功能测试、直流参数测试、交流参数测试，而功能测试和交流参数测试对存储器来说是至关重要的。SRAM（静态随机存储器）的功能测试是通过算法图形发生器产生不同的测试图形，对被测器件各个不同存储单位进行读写操作，以检查其功能。主要讲述了SRAM交流参数测试原理及其测试关键技术，介绍了SRAM交流参数测试的故障模型。通过研究SRAM交流参数测试图形向量，给出了SRAM交流参数测试图形向量的优化方法。

关键词：存储器；动态参数；测试图形

1　引言

半导体存储器一般由存储体、地址译码驱动器、读/写放大器和控制电路组成，是一种能存储大量信息的器件，它是由许多存储单元组成的。每个存储单元都有唯一的地址代码加以区分，而且能存储一位（或一组）二进制信息，半导体存储器是目前应用最广泛的存储器件。半导体存储器的测试也和其他数字电路一样，有功能测试、直流参数测试、交流参数测试，而功能测试和交流参数测试对存储器来说是至关重要的。……