一年一度的计量测试领域的盛会——中国计量测试学会科学技术进步奖颁奖大会，5月20日至21日如期在北京召开。国家质检总局副局长梅克保、孙大伟、王炜、吴清海、张沁荣以及党组成员、人事司司长李元平、总检验司项玉章、总工程师刘兆彬等局领导，中国计量测试学会理事长蒲长城以及国务院相关部委、计量测试领域的院士、专家、学者共有1000多人，齐聚一堂，共同见证中国计量测试学会科学技术进步奖颁奖盛典。

梅克保副局长代表国家质检总局发表重要讲话。他在讲话中指出：计量是科学技术的基础，是人类认识世界的工具，是社会进步的重要基石。随着一些新兴学科的兴起和发展，也给计量测试技术提出了新的、更高的需求。创新是无止境的，只有不断创新才能推动计量科技的发展。而计量测试技术的创新与发展，也是推动其他科技创新的基础技术，或者说是重要手段。中国计量测试学会科学技术进步奖是计量测试领域的一面旗帜，展示的是计量测试领域的重要科技成果，是计量测试领域的科技创新，也是计量科技工作者精益求精的精神、勇于创新的风采和无私奉献的人格的集中体现。计量测试科技创新与发展对推动科学技术的进步具有十分重要的作用。创新引领国家和民族发展的未来。创新是中华民族生生不息的秉性、发展进步的动力，科技工作者是科技创新的主体。必须把提升人才素质放在优先位置，大力培养创新型人才。……