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基于ARM芯片与数据采集模块的过滤材料完整性测试仪

2015-06-07戴志巍张兴华王正飞

仪表技术与传感器 2015年10期
关键词:实验系统

戴志巍,张兴华,王正飞,俞 健,黄 彦

(1.南京工业大学自动化与电气工程学院,江苏南京 210009;2.南京高谦功能材料科技有限公司,江苏南京 210009;3.南京工业大学化学化工学院,材料化学工程国家重点实验室,江苏南京 210009)



基于ARM芯片与数据采集模块的过滤材料完整性测试仪

戴志巍1,张兴华1,王正飞2,俞 健3,黄 彦3

(1.南京工业大学自动化与电气工程学院,江苏南京 210009;2.南京高谦功能材料科技有限公司,江苏南京 210009;3.南京工业大学化学化工学院,材料化学工程国家重点实验室,江苏南京 210009)

基于泡点法设计并搭建了一款完整性测试仪,用于检测过滤材料的工作可靠性。详细阐述了完整性测试方法与测试系统的软、硬件设计方案。以ARM嵌入式系统芯片和数据采集模块组成测试仪器硬件系统,通过采集压力传感器和流量计的检测信号,对过滤材料的完整性参数进行自动检测。系统具有打印和保存测试数据的功能,且工作稳定可靠,满足对过滤材料完整性参数测试的要求。

气泡法;ARM;数据采集模块;自动检测

0 引言

对于过滤膜材料而言,完整性参数是评估其过滤性能的重要依据。完整性参数可由完整性测试实验获得,根据FDA在无菌产品制造指南(2004)中的明确规定,对于由一个或多个滤器组成的过滤系统,对它的验证都应该包括在最差条件下进行的微生物挑战实验和完整性实验[1]。通常完整性测试可分为2类:破坏性实验、非破坏性实验。破坏性实验主要指微生物挑战实验;……

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