光学电磁场探测探针标定技术研究

2015-04-13张思敏盛永鑫田晓光

计测技术 2015年4期

张思敏，盛永鑫，田晓光

(中国电子科技集团公司第38 研究所，安徽合肥230031)

0 引言

光学电磁场探测探针(以下简称光学探针)具有测量频带宽、动态范围大、对被测场的干扰小、空间分辨力高、不受外界环境电磁干扰等优点，这些优点决定了光学探针非常适合于对相控阵雷达天线进行测量校准。目前，我国已开始研究利用光学电磁场探测技术对相控阵雷达天线进行测量校准，美国、日本、韩国和法国也在开展类似的工作。如何标定光学探针的幅度和相位测量能力，提高光学探针对相控阵天线的近场幅度和相位的测量精度，实现对相控阵天线工作模式下的校准和功效评估，目前缺少相应的标定方法，需要研究［1］。直透镜对光纤中激光进行聚焦，将激光聚焦在电光晶体上，激光透过电光晶体，经其端面(镀介质全反射膜)反射返回光纤内。探针前端的电光晶体在外加电场的作用下，产生电光效应，其光学折射率分布发生变化，从而影响在其中传输的激光偏振特性，经过后端光学主系统的偏振相关检测解调，将光载波中携带的电磁波信息分离出来，通过外差相干探测，获得电磁波信号的幅度和相位信息。因此光学探针和后端的光学主系统在被测电磁场信号与系统最终检测得到的微波信号之间建立了一种对应关系，这种测量方法的准确性关键取决于探针的标定。