刘志军

（广州航海学院 船舶工程系，广东 广州510725）

1 引 言

GOA TFT LCD（GOA：Gate Drive IC on Array）是近年TFT LCD 的一种新类型，其把驱动液晶Gate信号的IC 直接刻蚀在液晶面板上，省去了Gate Drive IC的成本和把IC绑定在液晶面板上的工序，更重要的是由于Gate Drive IC与液晶面板为一个整体，使得产品更薄、分辨率更高、稳定性和抗振性更好。目前，GOA TFT LCD已经成为移动终端业的主流，智能手机几乎都使用这种液晶面板。Shorting Bar Testing是GOA TFT LCD 生产过程中的一道重要的测试工序，Shorting Bar Testing原理是从面板上专门的测试线路注入测试信号把面板点亮，通过控制测试程序产生一些简单的测试画面［1－3］，如果面板存在缺陷（如黑点、彩点、划线和灰度不均等），缺陷就会在这些画面显示出来，再由人工或者缺陷自动检测系统把不良面板检测出来，保证不合格的产品不进入下道工序——IC 绑定［4－6］，避免不必要的IC、FPC 和ACF 等材料的浪费，提高GOA TFT LCD 产品的合格率、降低物耗成本。GOA TFT LCD 产品由于高分辨率，超薄的特征，使得面板上线路间的空间距离非常小［7］，线路间的绝缘层很容易被电击穿，而出现“烧伤”现象。有厂家把问题归结为Shorting Bar Testing测试参数电压过高；有厂家把问题归结为Shorting Bar Testing 测试时驱动程序启动瞬间的冲击；有厂家把问题归结为静电击伤。究竟是什么原因导致该问题，一直困扰着业界，只有找到问题的根源，才可能找到应对的策略。

本文针对把根源归结为Shorting Bar Testing工序测试参数电压过高的假设，设计一个Source电压远高于理论测试电压的测试波形，分别以高压值参数和理论值参数对样品进行测试，结果发现两种情况下烧伤概率一样；……