何松华，朱 燕，张 军

(1.湖南大学 信息科学与工程学院，湖南 长沙 410082；2.酒泉卫星发射中心,甘肃 酒泉 732750；3.国防科学技术大学 ATR实验室，湖南 长沙 410073)

HE Song-hua1†, ZHU Yan1,2,ZHANG Jun3

(1.College of Information Science and Engineering, Hunan Univ，Changsha,Hunan 410082，China；2.Jiuquan Satellite Launch Centre,Jiuquan, Gansu 732750，China;3.ATR Laboratory,National Univ of Defense Technology, Changsha, Hunan 410073, China)

相关K分布杂波中扩展目标积累检测性能分析*

何松华1†，朱 燕1,2，张 军3

(1.湖南大学 信息科学与工程学院，湖南 长沙 410082；2.酒泉卫星发射中心,甘肃 酒泉 732750；3.国防科学技术大学 ATR实验室，湖南 长沙 410073)

针对时空相关K分布(C-KD)杂波背景中扩展目标的滑窗积累检测(SWAD)与顺序统计-滑窗积累检测(OS-SWAD)的性能分析问题，采用广义K分布拟合、矩匹配、相关数据中的有效样本尺寸估计以及分数阶顺序统计等方法，获得了零假设条件下检验统计量的概率分布函数的拟合表达式，建立了虚警概率、恒虚警检测门限以及杂波参数之间的关系方程，并通过蒙特卡罗仿真实验对各种概率分布函数的拟合精度以及给定检测门限下的虚警控制精度进行了评估.理论分析与仿真实验表明本文提出的方法是合理和有效的.

K分布；相关杂波；扩展目标；目标检测；顺序统计

HE Song-hua1†, ZHU Yan1,2,ZHANG Jun3

(1.College of Information Science and Engineering, Hunan Univ，Changsha,Hunan 410082，China；2.Jiuquan Satellite Launch Centre,Jiuquan, Gansu 732750，China;3.ATR Laboratory,National Univ of Defense Technology, Changsha, Hunan 410073, China)

在高分辨雷达中，杂波用K分布进行拟合时可以获得较好的拟合精度[1-3],因此，K分布杂波背景中的目标检测方法研究对于宽带高距离分辨力雷达以及合成孔径雷达具有重要意义.但是，目前的检测方法及其性能分析主要针对K分布杂波背景中的点目标或高斯杂波背景中的扩展目标[1]，相关K分布(Correlated-K Distribution, C-KD)杂波背景中的扩展目标检测方法及其检测性能分析依然是一个没有完全解决的问题.

对于……