王 侃，王 真

(1.南京电子技术研究所， 南京210039;2.天线与微波技术重点实验室， 南京210039)

0 引言

雷达是战争的产物，天线是雷达的重要组成部分，相控阵雷达天线是由许多天线单元排列而成的定向天线。电扫相控阵通过改变天线单元的激励相位来实现波束的快速捷变，可大幅提高雷达信息的获取和更新速率。

由雷达方程可知，较大的天线口径可获得较高的天线增益，进而满足雷达更远作用距离的需求。大型电扫相控阵雷达的天线口径往往达几十米、包含数千个甚至上万个天线单元。

相控阵天线在设计、生产、加工和总装完成之后，必须对天线的辐射特性进行测试以验证设计的正确性，从而确认各项战技指标是否达到要求。该过程是整个雷达研制的重要环节之一。而天线方向图是天线辐射特性的重要参数。

相控阵天线的方向图测试主要有近场扫描测试、远场测试和中场测试三种［1］。

近场扫描测试［2］是用一个特性已知的辅助天线在距离待测天线数个波长的扫描面上测量场的幅度和相位分布，再通过近/远场变换，确定待测天线方向图的一种间接测试技术。近场扫描测试技术一般将扫描面取为平面、柱面或球面，并相应的称为平面、柱面或球面近场测试技术，通常需要在暗室内进行。对于大型雷达来说，庞大的天线无法进入暗室，在外场也难以构建近场扫描测试系统。因此，近场扫描测试无法适用于大型相控阵雷达天线方向图的测试。……