爱德万测试（Advantest）新品发布

爱德万测试（Advantest）就新近推出的三款新品日前分别于上海、北京举行媒体发布会。发布会期间，业务战略发展部的高级总监陆亚奇先生就半导体市场需求，产业结构及增长率进行了分析和介绍。

以下是爱德万测试三款新品的用途和性能介绍：

Advantest推出1.6-Gbps数字模块，通过功能强大的EDA-LINK（FTA-ELINK）进行Protocol-Aware测试

全球领先的半导体测试设备供应商Advantest推出其全新的T20001.6GDM数字模块，旨在提高系统级芯片（SoC）在T2000的测试平台上的测试效率。

1.6 GDM模块集成了FTA+（Functional Test Abstraction Plus）新功能以实现Protocol-Aware测试，在测试过程中测试仪将直接以各种协议语言与待测芯片（DUT）进行通信。EDA工具FTA-ELINK将设计仿真器直接连接到T2000测试平台，此外，Verilog代码可以在带有1.6GDM模块的T2000 EPP（增强型性能套件）系统上运行。由于其向量发生器拥有了具备独立时序及存储功能的Protocol-Aware引擎，T2000可以在本地进行基于协议的I/O测试，从而实现高效的并行、并发测试，显著加快了用户从设计到出样的时间，提高了产品面市速度。

随着1.6GDM模块的推出，T2000EPP大大提高了其并行测试的能力，每个DUT的功能可以独立地监测和评价。新模块具有的矢量模式使得它在具有更高产能和可靠性的同时，与现有的1GDM数字模块完全兼容。

Advantest推出新款芯片供电电源，提高T2000测试平台的通用性和成本效益新DPS150AE模块为高、低电流器件提供高产出、高同测能力

全新的T2000增强型芯片供电电源DPS150AE模块，使得T2000测试平台可用于针对包括MPU、ASIC和FPGA等在内的大电流和低电压芯片的高精度测试。该模块提高了T2000以最低测试成本对以上芯片进行高产出、高同测的能力。……