林 楠，丁 宁

（中国电子科技集团公司第四十七研究所，沈阳110032）

LC2294处理器片内A／D转换器测试

林 楠，丁 宁

（中国电子科技集团公司第四十七研究所，沈阳110032）

介绍了通过对LC2294处理器片内A／D转换器测试，构建简单可靠，通用性好的自动测试系统，提出了一种软硬件结合的A／D测试方法，给出了测试系统原理图，并详细描述了软件实现过程。

LC2294处理器；A／D转换器测试；A／D测试方法

1 引 言

作为连接模拟世界和数字世界的桥梁，A／D转换器是数据采集和实时控制领域中不可缺少的重要组成部分，LC2294处理器内嵌了10位A／D转换器。对于A／D转换器而言，其主要的静态性能指标是积分非线性误差（INL）和微分非线性误差（DNL）。利用D／A、A／D转换的可逆性及LC2294处理器自身强大的运算和控制能力，可以很方便的构造出简单实用的自动测试系统。

2 LC2294处理器片内A／D转换器

LC2294处理器片内集成了8路10位逐次逼近式A／D转换器，由逐次寄存器、比较器、同精度的D／A、基准电压组成［1］。从MSB开始，顺序地对每一位输入电压与内置D／A转换器输出进行比较，经n次比较而输出数字值，测量范围0～3.3V。A／D转换器的基址是0xE0034000，A／D转换器包含2个寄存器，分别是：A／D控制寄存器ADCR（地址：0xE0034000）；A／D数据寄存器ADDR（地址：0xE0034004）［2］。

3 INL、DNL

LC2294处理器片内A／D转换器的静态性能参数指标测试，主要考虑的是相对应于引起相邻两个输出数码改变的输出转换点的模拟输入值测试。对于A／D转换器而言，一个LSB（Last Scale Bit）范围内的无数个模拟输入值将产生同一个输出数码，也就是说一个输出数码对应一个模拟输入范围。只有通过这些值的测试才能确定LC2294处理器片内A／D转换器的静态性能。……