刘振田，李维波，林城美，李卫超



一种改进的随机存储器自检测March算法

刘振田，李维波，林城美，李卫超

(海军工程大学舰船综合电力技术国防科技重点实验室，武汉 430033)

本文对随机存储器各类故障的失效机制和当前已有的解决算法做了简要介绍，进而对该问题更好的解决和各个指标的优化平衡提出了一种改进的March算法,从而达到了较高的故障覆盖率。

嵌入式RAM 自检测试 March算法 故障覆盖率

0 引言

随着集成电路的不断发展，现代的芯片越来越趋于密集化和集成化，嵌入式片上系统（SOC）应用炙手可热。然而，密封芯片带来好处的同时，对其内部的构成检测，尤其是对嵌入式片上系统内部存储单元的状态测试成为一个难题。根据半导体工业协会和ITRS2000的统计分析，2002年嵌入式存储器在芯片面积的比重为52%，到2014年已达到94%[1]。此时，以往的通过硬件的内建自检测电路(Built-in Self Test, BIST)的方法已不适用，首先需要芯片有较多的I/O外接口，其次硬件电路增加了芯片占用的面积，还增加了生产成本，最后在已存在的密闭系统添加外部硬件在实现上存在较大的难度。相比之下，软件自检测试方式显示出极大地优越性。

本文在讨论业已成熟的March算法和几种改进算法的基础上，提出了一种新的改进的March算法，达到了较高的故障覆盖率，具有一定优势。

1 随机存储器RAM简介

RAM又分为静态RAM(SRAM: static RAM和动态RAM(DRAM: dynamic RAM)。一般来说，静态RAM应用较多，其结构构成如图1所示。SRAM可简化为以下几个分机构：数据寄存器，数据存储矩阵，行列的地址缓存器，行列的地址译码器，行列的读写驱动器。……