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贴片半导体器件可靠性工作研究

2014-04-18薛淑秀刘艳梅

企业技术开发·中旬刊 2014年1期
关键词:研究

薛淑秀 刘艳梅

摘 要:文章主要介绍了贴片半导体器件的特点,应用范围,开展贴片半导体器件可靠性工作研究的目的,针对可靠性工作研究中遇到的问题提出了解决措施,建成了贴片半导体器件的可靠性保障能力,为保障贴片半导体器件装机质量做出了贡献,提出开展贴片半导体器件的可靠性研究工作很有必要。

关键词:贴片;半导体;可靠性;工作;研究

中图分类号:TO306 文献标识码:A 文章编号:1006-8937(2014)2-0126-02

贴片半导体器件以其体积小、重量轻的特点,满足了航天武器系统小型化的需求,逐渐被用来替代金属或陶瓷封装的分体式器件。随着使用过程中暴露出的质量问题,贴片半导体器件的质量越来越受到各使用单位的关注,为确保贴片半导体器件的装机质量,在装机前剔除参数超差或有潜在工艺缺陷的器件,开展贴片半导体器件的可靠性工作研究很有必要。

1 贴片半导体器件的封装形式

①贴片陶瓷半导体器件的封装形式主要有:SMD-0.1、SMD-0.2、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2、SOT-23C、UA、UB等。

②贴片玻璃半导体器件的封装形式主要有:Mili-MELF(DO-213AA)、LL34/LL35等。

③贴片塑料半导体器件的封装形式主要有:SMA(DO-214AC)、SMB(DO-214AA)、SMC(DO-214AB)、SOD123、SOD323、SOD523、SOT-23、SOT-223、SOT-89、TO-252、D2Pak、

SO-8等。

2 可靠性工作中遇到的问题及解决措施

2.1 高温试验后引脚氧化问题

贴片半导体器件的引脚在高温环境下容易氧化变黑,影响器件的可焊性,建议参照PEM-INST-001取消了高温贮存试验项目,增加温度循环试验次数。

2.2 贴片半导体器件可靠性试验中受机械应力引脚变形

问题

贴片半导体器件引脚短、薄、软,受力极易变形,引脚变……

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