利用伪随机斩波技术的微弱MEMS信号检测电路
2014-03-21王玮冰祖秋艳宋冬雪孙业超
仪表技术与传感器 2014年2期
关键词:信号
何 鑫,王玮冰,祖秋艳,宋冬雪,孙业超
(1.中国科学院微电子研究所,中国科学院微电子器件与集成技术重点实验室,北京 100029;2.江苏物联网研究发展中心,江苏无锡 214135)
0 引言
MEMS传感器前端读出电路因为其具有高线性度、电路结构简单和温度系数小等优点,正受到更多的关注和研究。然而MEMS前端读出电路位于处理电路中引入噪声和失调的重要位置,这些噪声和失调必须通过电路处理技术将其消除。常用减小噪声和失调的技术有相关双采样[1](CDS)、自稳零技术(auto-zero)和斩波放大技术[2](chopper)等。通过比较,在连续时间放大电路中,斩波放大技术可以更好地减小低频噪声和失调,但是由于调制解调过程中引入了开关尖峰和电荷注入,所以在斩波频率附近产生纹波即残余失调。为了消除残余失调,提出了采用伪随机频率[3]斩波,即利用伪随机频率信号的自相关性[4],减小剩余的残余失调[5]和残余的波动幅度。
1 伪随机频率斩波检测原理
1.1斩波放大原理
图1为一个传统MEMS斩波放大电路[2]的简图,调制器S1和解调器S2同时受到斩波频率时钟CLK控制,左侧是一个典型的可变MEMS电容电桥电路,中间的运算放大器A1能够将传感器的输出信号进行放大处理,通过解调器S2将失调和噪声调制到高频,最后低通滤波器P1将高频的噪声和失调滤除,被解调器S2解调的低频信号则无衰减地通过低通滤波器P1,得到放大后的传感器信号。

图1 传统MEMS斩波放大电路简图
采用斩波技术后,运算放大器A1中的失调电压VOS被消除,但是调制器S1和解调器S2的开关尖峰和电荷注入效应会产生额外的残余失调电压。……
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