杨　洋，顾卫红，沈小青，陆加海，陈　薇

(1．中国卫星海上测控部，江苏江阴　214431；2．中国卫星海上测控部飞行器海上测量与控制联合实验室，江苏江阴　214431)

0　引言

随着电子科技的迅猛发展，芯片及PCB电路的高速率、高集成度发展趋势，对电子设备可靠性设计提出了更高的要求。以PCB电路设计为例，由于现代芯片朝着高速、低功耗的方向发展，芯片工作电压的降低，造成芯片的抗干扰能力下降；PCB多层板及高密度布线方式的采用，使走线间距变小，线宽变窄，PCB板对电磁干扰的抑制能力下降[1]。

静电放电产生的电磁干扰通常表现为电晕放电、火花放电和刷型放电等形式，对电子产品的影响可以分为非破坏性影响和破坏性影响两大类。其中非破坏性影响主要是由于静电放电形成的干扰电流或电磁波被PCB接收，对电子系统造成传导干扰和辐射干扰，这些干扰能够造成数据错误或电路故障[1]。由于静电广泛存在，同时静电危害的隐蔽性很强且难以发现，已成为现代电子产业中的隐患，利用静电放电模拟器对电子系统进行非接触式空气放电试验，可以及时发现系统在抗静电干扰设计上的薄弱点，并加以改进。

1　设备抗静电干扰测试方案

文中以实验室自主设计的“基于网络的开放式机房环境监控平台”样机为实例，依据国标GBT 17626．2-2006《电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验》[2]开展测试试验，发现、定位该设备在抗静电干扰设计中的缺陷，并对设备改进方法进行了详细的说明。……