王晓丹，孟令军，尹维汉，周之丽

（中北大学 电子测试技术国家重点实验室 仪器科学与动态测试教育部重点实验室，太原030051）

随着计算机技术的不断进步，温度控制系统正朝着智能化、高精度、多功能、高可靠性及安全性等高科技的方向迅速发展[1]。在军事、航天和航空等一些特殊的应用场合，对测温装置的要求非常高，为了保证核心器件工作的稳定性，需要高精度的温度控制保证其工作环境。所以，研究如何提高温度测量系统的测温精度具有较强的实际应用价值[2]。

基于此，本文以ARM微处理器作为装置的控制核心，PT1000铂电阻作为温度传感器，设计了一种基于ADS1148的多路高精度测温装置。该装置具有可靠性好、抗干扰能力强、测温精度高等优点。

1 装置工作原理

如图1所示，主控MCU收到指令后完成对4路温度传感器信号的采集控制，读取ADC芯片的转换结果后，把温度数据经过编码、转换、存储到寄存器中并通过串口将数据上传到计算机中，在计算机中通过地面测试上位机读取各通道的温度值并显示。

图1 装置原理框图Fig.1 Block diagram of the device

该装置的主控MCU采用的是意法半导体公司设计的STM32F103RET6，它是基于ARM Cortex-M3内核的32位微处理器[3]。TI公司的ADS1148是高度集成的16位精密ADC芯片，ADS1148模数转换芯片属于测温专用数据采集器[4-5]。主控MCU负责对整个装置进行控制，与信号采集芯片ADS1148之间采用SPI总线进行通信，能够通过SPI接口外接2片、3片、4片或更多片ADC芯片实现采集多通道温度传感器信号，一片ADS1148可以外接4路差分形式输入的模拟信号。……