夏德平，刘雪晶

(南京电子技术研究所， 南京210039)

0 引言

随着数字技术快速发展，全自适应数字阵列已开始在雷达中广泛应用，它是一种以数字技术来实现波束形成的技术，保留了天线阵列单元信号的全部信息，用先进的数字信号处理技术对阵列信号进行处理，以获得优良的波束形成性能。采用全自适应天线阵列后，传统的模拟天线阵列的近场测试系统已不再使用，需要对现有测试系统进行改进，以满足不断发展的技术需求。

本文对全自适应数字阵列开展相关研究，针对全自适应数字阵列自身特性，采用多通道并行处理技术，对现有模拟近场测试系统进行改进，从而实现了全自适应数字阵列性能测试。采用改进后测试系统，除了完成常规数字波束的测试外，还对在外场条件下无法测量的自适应波束进行测试，从而确切地评估雷达系统的抗干扰能力。

1 近场测试原理

天线近场测试需要专门的技术和测试设备，在专用的微波测量场地才能实现测试，其工作原理是利用特性已知的探头在距被测天线 3 λ～5 λ的表面上［1-2］，测出天线场的幅度分布和相位分布，根据测试数据利用数学变换计算出被测天线远区辐射场［3］，其核心思想是把待测天线在空间建立的场展开成平面波函数(或柱面、或球面函数)之和，展开式中加权函数包含着远场方向图的完整信息，根据近场测试数据算出加权函数，进而确定天线的远场方向图。由于应用了模式展开，所以称之为模式展开法，这种方法已成为天线方向图和增益的一种准确测量技术。……