NaI(Tl)闪烁探测器单能γ谱的Compton坪台
2013-10-25张为天汪知昌宗子诏陆景彬马玉刚杜晓波王文全
张为天,杨 东,汪知昌,宗子诏,王 莹,陆景彬,马玉刚,李 剑,韩 炜,杜晓波,王文全
(吉林大学物理学院,长春130012)
光子散射时波长会随散射角的不同而变化,该现象称为Compton效应[1].Compton效应中光子与原子的核外电子发生弹性碰撞,一部分能量转移给电子,使其脱离原子成为反冲电子,从而散射光子的能量和运动方向发生变化[2].对γ射线进行能量探测时,若γ光子在探测区域首次发生的是Compton效应且散射光子逃逸出探测区,则反冲电子将形成一个能量从0~Eγ/(1+(1/4)Eγ)的连续谱,即Compton坪台[3].本文使用NaI(Tl)闪烁探测器测量137Cs点源的γ能谱,并利用Compton散射截面Klein-Nishina公式和Monte-Carlo粒子输运(MCNP)程序研究NaI(Tl)探测器单能γ谱的Compton坪台[4].
1 实验装置与过程
实验装置如图1所示.使用的探头为吉林大学物理学院近代物理实验中心的SG1101型NaI(Tl)闪烁探测器.闪烁晶体为圆柱体,直径与高度均为7.62 cm.其中氧化镁反射层厚0.05 cm,晶体外包裹铝壳,侧面厚0.20 cm,前部厚0.25 cm,光学玻璃厚0.2 cm.NaI(Tl)探测器置于铁制框架上.为更好地消除反散射峰对实验结果的影响,实验时将NaI(Tl)探头向上放置,137Cs点源置于探头上方7.7 cm处.
先测量实验室的本底,测量时间为1 781 s,在本底谱中低能区的大量计数主要来源于系统的噪声.再测量用于能量刻度的152Eu标准源能谱,测量时间为1 542 s.本文选取152Eu标准源0.121,0.244,0.344,0.778 MeV的特征射线进行能量刻度.最后测量了137Cs标准源能谱,测量时间为1 631 s.测量过程中探测器的高压为475 V,线性放大器放大倍数为600.

图1 实验装置Fig.1 Experimental equipments
2 结果与分析
137Cs单谱和实验室本底谱如图2所示.根据测量时间对本底……