摘要：随着智能卡应用范围的不断扩大，应用环境的日趋复杂，智能卡面临着越来越多的安全威胁，需要对其进行穿透性测试。本文综述了智能卡的穿透性测试技术、在此基础上提出了穿透性测试的评估方法，并通过一个实际的智能卡穿透性测试案例对穿透性测试技术和评估方法的有效性进行了验证，表明该方法可以为实施智能卡穿透性测试提供指导。

关键词：智能卡；穿透性测试；非侵入式攻击；半侵入式攻击；侵入式攻击

中图分类号：TP274

智能卡也称CPU卡，具有较强的数据处理能力，其应用范围日趋广泛，2012年全球智能卡发行量约为70亿张。但智能卡在实际应用中却频频遭受破解，针对Mifare卡和英飞凌SLE66芯片的攻击实例表明，对于智能卡，不仅需要通过数学模型来证明其算法的安全性、通过功能测试来评估其安全功能实现的准确性，同时必须通过穿透性测试验证智能卡的实际安全。

对于智能卡穿透性测试的研究已经进行了一段时间，国内对各种攻击手段已开展相应分析，但缺少系统性的穿透性测试种类和测试方法的研究，亟待建立评估方法模型。本文在已有研究工作和成果的基础上，总结智能卡的穿透性测试技术，提出智能卡的穿透性测试评估方法，并通过示范应用实例对技术方法的有效性进行了分析验证。

1 智能卡的穿透性测试技术

近年来，对智能卡的穿透性测试手段越来越多，常用的大致分为三类：非侵入式攻击、半侵入式攻击和侵入式攻击。……