《电子测试》征稿启事
2013-08-15
电子测试 2013年22期
《电子测试》是北京市科学技术研究院主管,国内外公开发行的科技类核心期刊。以介绍最新电子技术和测试测量技术为主,秉承一贯的专业性和权威性的办刊宗旨,坚持前瞻性、技术性和实用性的编辑方针,为测试测量及自动控制业界的工程师和技术研发人员提供了全新可靠的技术与应用和行业资讯。《电子测试》创刊于1987年,见证了中国电子测试测量业的发展历程。如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注,而为他们搭建沟通行业信息的平台,开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的核心使命。众多科研院所、大专院校的科研精英和国内从事微电子行业和电子产品开发的科技人员已成为其忠实的读者群。
一、稿件类别
1.综述类稿件 2.论文类稿件
3.应用于经验类稿件 4.仪器、器件类稿件
二、选题要求
测试测量的基础理论、电参数测量、信号检测技术、传感器技术、仪器仪表技术、嵌入式技术、通讯技术、DSP、EMC/EMI测试、纳米测试、虚拟仪器技术、基于总线的测试、集成电路测试、在线测试与故障诊断、计算机在测控系统中的应用、图形图像处理技术、软件工程、网络技术、可编程器件在测控系统中的应用、微处理器应用,以及测试测量技术在航空航天、机械电子、医疗、智能家电和汽车电子、绿色制造及检测技术、高清晰视频和光电显示、标准认证及可靠性分析、半导体测试技术、通用测试技术等领域的应用等方面的研究论文。……
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