吴正平，贡树青，于清清，吴功臣，张伟伟

（南京三江学院 电子信息工程学院，江苏 南京210012）

当今半导体行业发展迅猛，相互的竞争异常激烈。在这样的环境下，缩短产品研发周期，提高产品质量则成为各家芯片设计公司比拼的重点。当前越来越复杂的系统要求对每个器件的把握度更高，换而言之就是更多更详细的测试项，更宽更广的测试覆盖面。

为了满足行业对测试越来越苛刻的要求，自动测试系统则成为非常急迫的需求。常规的自动测试设备价值几十万美金，带有射频测试能力的机台则是更加昂贵，中小型的设计公司显然无法负担如此昂贵的设备。利用实验室已有的设备完成自动测试功能，则成为解决问题最好的方式。

1 硬件设计

实验室常用的射频测试仪器有频谱分析仪[1]、信号源[2]、网络分析仪[3]几种。下面对这几种射频测试设备进行简单的介绍。频谱分析仪是研究电信号频谱结构的仪器，用于信号失真度、调制度、谱纯度、频率稳定度和交调失真度等信号参数的测量，是一种多用途的电子测量仪器。信号发生器是指产生所需参数的电测试信号的仪器。射频信号源输出频率较高，体积较大，输出最高功率一般在15 dBm以下，用来向被测器件提供激励。网络分析仪可直接测量有源或无源、可逆或不可逆的双口和单口网络的复数散射参数，并以扫频方式给出各散射参数的幅度、相位频率特性。目前大多数芯片需要通过SPI、I2C等串行协议对其内部寄存器进行配置，为此特别设计了一个转接电路用来将LPT的几根信号线引出，用以模拟SPI、I2C 等 信 号。……