沈显照

(中国电子科技集团公司第38研究所 合肥 230031)

1 引言

随着现代雷达的发展，雷达功能不断增强，系统的复杂性不断提高，这对雷达系统的可靠性，可维护性和可操作性等技术指标提出了更高的要求。在雷达的研制过程中，对于可靠性可以采用一些有效的技术来提高，但由于元器件老化失效、外部环境劣化等各种因素的限制，可靠性不可能无限制地提高。作为雷达系统研制的一种优化方案，在雷达系统可靠性一定的前提下适当增加可靠的冗余设备和检测设备，以便提高雷达的可靠性和可维护性，为此，现代雷达中进行了可测试性设计(DFT—design for testability)。在现有的DFT方案中，常用的有边界扫描(BS—boundary scan)技术和内建测试(BIT—built－in test)技术［1］。前者常用于互连测试，后者侧重于功能测试。

具体来说，BIT是提高电路系统可靠性并减少系统维护费用的关键技术。它通过附加在电路系统内的软件和硬件对电路系统进行在线故障自检测［2］。通过在系统中加入BIT，可以达到屏蔽故障影响、提高系统可靠性的目的。完善的BIT设计是实现系统级可靠性技术的关键，它还是实现故障容错和重构的基础。

随着技术的不断发展，对雷达的机内测试，要求越来越高，因此，雷达系统的使用方和研制方都必须在研制初期就进行故障检测和性能检测的论证和设计。

2 BIT系统的设计

机内测试的目的在于提高系统和设备的战备完好性和任务成功性，减少对维修人员和其它资源的要求，降低寿命周期费用，并为管理提供必要的信息。……