刘 敏 庹先国 李 哲 徐立鹏 王 俊 陈 磊

1(成都理工大学 地质灾害防治与地质环境保护国家重点实验室 成都 610059)2(成都理工大学 地学核技术四川省重点实验室 成都 610059)3(西南科技大学 绵阳 621000)

能量色散X荧光分析是当代无损分析技术之一，它可以实现对样品的无损、快速、多元素测量，有着广泛的应用领域[1-3]。在能量色散X荧光分析的发展过程中，基体效应一直是影响其分析精度的关键因素，尤其是元素间的吸收增强效应的影响。从20世纪50年代中期开始，元素间的吸收增强效应的数学校正主要按照三条路径发展[4]：基本参数法、影响系数法、基本参数法与影响系数法的结合。近年来，出现了一些新型的基体效应校正方法，如神经网络校正法等[5-7]。基本参数法是依据X荧光激发样品的物理机制所提供的数学理论方法，具有较高的可靠性。近几十年来，基本参数法凭借其只需少量简单的标样的优势，广泛应用于各行各业[8-10]。

本文探讨将能量色散X荧光分析法直接测量铅黄铜合金，并采用基本参数法分析合金中铜和锌元素的含量，实现元素间的吸收增强效应校正。

1 原理与计算公式

基本参数法是根据元素特征X射线荧光强度与含量、厚度的函数关系，应用X射线荧光强度的理论公式，以及一些基本物理常数和各种参数(包括荧光产额w、质量吸收系数m、吸收限跃迁因子J、谱线分数f、仪器的几何因子即入射角1f和出射角2f等)，通过运算，将混合样品中各元素的X荧光测量强度转换为元素含量的方法。……