刘晓阳 李书芳 邢曙光 洪卫军

(北京邮电大学信息与通信工程学院 北京 100876)

1 引言

射频识别(Radio Frequency IDentification,RFID)技术是一类非接触类型的自动识别和数据采集技术，起源于上个世纪40年代。目前，RFID技术已经广泛应用到生产制造、物流管理、公共安全、教育、医疗等各个领域，并作为中国物联网事业的重要支柱技术之一，受到各行业的普遍关注[1]。UHF频段的被动式RFID系统属于远距离识别系统，标签天线一方面接收电磁能量，另一方面通过反向散射电磁波将标签内存储的信息反馈给读写器。Delta雷达放射截面(Radar Cross Section,RCS)作为标签通信时的一个重要参数，能够较完整地表征 RFID标签的性能[2]。

ISO IEC标准推荐RFID标签反向散射性能测试标准场地为全电波暗室[3,4]。测试时，必须保持标签与读写器发射和接收天线等高，且被置于两天线方向交点上，并朝向最优场强接收方向；读写器收发两天线间的残余耦合信号应低于 45 dB。在实际的RFID标签测试过程中，一方面全电波暗室场地造价昂贵，较难得到；另一方面，全电波暗室中测试要求的细节复杂，准确程度受测试过程影响较大。

针对传统UHF RFID标签Delta RCS测试方法的缺陷，本文提出了一种用GTEM小室代替全电波暗室测试UHF RFID标签Delta RCS的新方法，此方法测试场地造价低廉，占地面积小，且测试过程简单，受外界噪声的干扰小。本文通过对比实验验证了此方法的可行性。

2 使用GTEM室进行RFID标签Delta RCS测试的基本理论

本文提出一种用GTEM小室测试UHF RFID标签Delta RCS的新方法：将标签置于GTEM小室中，如图1所示。读写器通过环形器连接GTEM小室端口，通过测量GTEM小室端口电压反射系数Γ，即可由式(1)计算得到标签的Delta RCS：