黄 宁 朱 恩 刘文松 林 叶

(东南大学射频与光电集成电路研究所，南京 210096)

布线约束下的低功耗扫描测试

黄 宁 朱 恩 刘文松 林 叶

(东南大学射频与光电集成电路研究所，南京 210096)

分析了扫描测试过程中功耗产生的原因，研究了扫描触发器跳变对内部组合逻辑锥的影响，并对其进行建模，将计算得到的影响函数值作为扫描链重排序的依据.然后，基于扫描链结构的特殊性，分析了布线约束对扫描链重新排序的影响，并将布线约束简化，提出了一种同时兼顾低功耗和布线约束的算法.该算法不需要迭代，通过一次运行即可得到扫描链重排序的结果，在保证后端设计可行性的前提下，尽可能减少了高影响值扫描单元上的跳变次数，实现了对扫描测试功耗的优化.基于电路测试算例以及ISCAS89基准电路集中的电路s298和s5378，进行了仿真实验，结果表明:所提算法可以使扫描测试功耗降低12%，对故障覆盖率以及测试时间没有任何影响，而且不需要任何硬件开销，可应用于芯片的量产测试.

扫描链;逻辑锥;低功耗;布线约束;重排序

如何实现低功耗扫描测试是目前芯片设计领域面临的诸多挑战之一.测试电路的增加、测试向量之间较小的相关性以及并行测试的采用，使芯片在测试模式下的功耗较正常工作模式时高出一倍左右.功耗过高会导致芯片因测试而损坏，芯片良率降低，封装成本随之增加.

基于扫描的测试是目前业内最为常用的DFT(design for test)方法……