一种基于SFS方法的含高光表面三维重构系统*
2012-08-15王国珲马凤军
光学仪器 2012年4期
关键词:系统
王国珲,苏 炜,马凤军
(1.西安工业大学 光电工程学院,陕西 西安 710032;2.西安利君制药有限责任公司,陕西 西安 710077)
引 言
通常,物体的三维信息获取技术有两大类:接触式测量和非接触式测量[1]。尽管接触式测量技术比较成熟,且能够获得很高精度,但存在诸如测量环境要求高、测量效率低等不足,限制了它的应用场合。从明暗恢复形状(shape from shading,SFS)方法作为一种被动非接触式测量技术,弥补了上述的不足,它仅利用单幅图像的明暗变化来重构物体表面的三维信息,技术原理相对简单、适用性强,因而已经成为计算机视觉领域的研究热点。
传统的基于SFS方法的三维重构系统常使用Lambert模型描述物体表面的反射特性,在重构含高光的表面时,会导致较大误差,这是因为含高光表面既含有漫反射成分又含有镜面反射成分[2]。
针对含高光表面三维形状重构的需求,设计一种新的基于SFS方法的三维重构系统。文中分析重构系统的组成,详细介绍了系统软件的设计过程,同时为了减少重构误差,使用Ward反射模型表述含高光表面的反射特性,并通过实验对重构系统进行了验证。
1 基于SFS方法的含高光表面三维重构系统
1.1 三维重构系统组成

图1 基于SFS方法的含高光表面三维重构系统Fig.1 SFS-based 3Drecovery system for surfaces with highlight
基于SFS方法的含高光表面三维重构系统由CCD相机、光学镜头、点光源、计算机以及被重构物体构成。三维重构系统的示意图如图1所示。
图1中,含高光表面物体表面被点光源照亮后,向外辐射能量;光学镜头收集物体表面反射的光线,聚焦于CCD相机的成像平面上,此时图像的辐照度代表了物体表面的辐射亮度;……
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