袁 萍

(上海交通大学机械与动力学院;上海电气集团上海电机厂有限公司，上海 200240)

0 引言

为了在检测实验室中，确保设备校准/检定状态的稳定性，一般在两次校准/检定期间需要对仪器进行期间核查。期间核查的方法很多，笔者依据相关资料将常用方法归纳为两类:E法与Z值法[1]。

1 E法与Z值法

1.1 E法公式:

1.1.1 在不同核查方法中E法公式中各符号的理解。(见表1)

表1 E法公式的理解

1.1.2 评判准则

当E≤1时，表明被核查设备的校准/检定状态得到保持，仪器状态可接受，同时表明在从前一次可接受的核查到这次核查期间的数据准确可靠。

当E＞1时，表明被核查设备的校准/检定状态没有得到保持，仪器状态不被接受，必须查找原因或重新送检定/校准，同时表明在从前一次可接受的核查到这次核查期间的数据不准确可靠，必须召回。

1.2 Z 值法

Z值法(简称Z法)经过中国计量科学研究院专家的认证，在仪器核查过程中也得到应用。由于期间核查只核查设备校准/检定状态的稳定性(即T、U的稳定)，所以在Z法中要求核查标准的稳定性。

1.2.1 公式

Z=Δ+[X－(T+U)](T≥X时)

Z=Δ－[X－(T－U)](T＜X时)

X——测量示值;

T——校准值(由校准证书中给出);

Δ——仪器的最大允许示值误差;

U——校准值的测量不确定度(由校准证书中给出)。

1.2.2 评判准则及方法的运用

(1)评判准则:

Z≥0时，仪器状态可接受，数据准确可靠;Z＜0时，仪器状态不被接受，数据不准确可靠。

(2)方法的运用:

应在校准/检定后(校准/检定状态还没来得及变)尽快用仪器测核查标准，得到一个读数X，判断Z与0的大小。以后的每次核查都可按此方法判断Z与0的大小以推断校准/检定状态的稳定性。……