蔡恒，崔雪楠，孟虹兆，黄启俊，常胜

（武汉大学物理科学与技术学院微电子学与固体电子学，湖北武汉430072）

随着科技进步和信息化的快速发展，如何在海量数据存储中确保数据不出错成为众人关心的问题。作为广泛应用于U盘、固态硬盘等电子产品的一种非易失性存储介，NAND Flash由于其结构的特殊性，在进行擦写操作时易产生错误，故需要引入错误校验机制。早期使用SLC工艺的NAND Flash通常采用汉明码（ECC）校验，但是无法纠正1 bit以上的错误。现今的MLC工艺多采用BCH纠错，但每页产生的错误往往超过2 bit，甚至达到4 bit。国内外对BCH纠错的研究已展开，参考文献[1-2]采用串行结构完成译码器设计，实现简单，但最大时钟频率小、速度慢，无法满足高速的需要。参考文献[3-4]中提出并行化结构，提高了设计速度和数据吞吐量，但电路实现讨论不充分。参考文献[5]中通过ASIC制备芯片并进行测试验证，但此方法周期长、费用高。

针对以上问题，本文基于Altera公司的CycloneII EP2C35系列FPGA完成了并行化BCH(8184，7976，16)码编译器设计，并利用SoPC Builder搭建了验证平台，在Nios II处理器的控制下能高效地完成BCH编译码算法的验证，具有测试环境可配置、测试向量覆盖率高、测试流程智能化的特点。

1 BCH编译码FPGA设计

结合实际使用NAND Flash的情况，16 bit纠错是NAND Flash使用的趋势。本设计采用并行化结构实现16 bit BCH码算法。

1.1 并行BCH编码器的设计

BCH 编码器通过除法电路得到余数作为系统码的校验位，实现公式为：

其中，m(x)为原码，C(x)为编码得到的系统码，g(x)为生成多项式。

对于BCH(8184，7976，16)码，有:

由式(4)可知编码的核……