以纠缠双光子多次穿过提高测量精度
2011-10-27尤林武夏立新伍方舟刘双全
湖南科技学院学报 2011年4期
尤林武 夏立新 伍方舟 刘双全
(河南科技大学 物理与工程学院 物理系,河南 洛阳 471003)
以纠缠双光子多次穿过提高测量精度
尤林武 夏立新 伍方舟 刘双全
(河南科技大学 物理与工程学院 物理系,河南 洛阳 471003)
文章研究了基于多次穿过相移器的双光束干涉仪,使用纠缠双光子进行相位测量。结果表明,能大幅度地提高测量精度,可打破标准量子极限。
纠缠光子;相位测量;光学干涉仪;标准量子极限
0 引言

到目前为止,有很多实验表明,测量精度可打破标准量子极限。但是,由于固有损耗的存在,其测量精度达到海森堡极限时,会随光子数的增加而变得更差[3,4]。如何提高物理量的测量精度已经成为物理学家的重要研究课题。

本文安排如下:在第1节中,介绍了Nagata干涉仪,使用纠缠双光子测量相位,对两种干涉仪的方案给出了统一的描述。在第2节中, 对两个方案的结果详细地进行了比较。最后,结论给出在第3节中。
1 两方案的统一描述
在Mach-Zehnder干涉仪的基础上,日本Nagata研究小组设计了一种干涉仪[1],如图1所示,称其为Nagata干涉仪,简称为单次干涉仪。

图1 Nagata干涉仪示意图
Nagata干涉仪由一个束分器BS和三个单面平面镜1、2、3组成,它是单次 )(q=1穿过相移器PS的干涉仪。具体光路如下:
光由a,b第一次进入半透半反( 50:50 )的束分器BS,经过相移器BS作用后,一部分光向上传播,称其为模d,向上到达平面镜1,向右穿过PS(只单次穿过)到平面镜2,向下到平面镜3,向左到BS。
另一部分光称为模c向右到达平面镜3,向上到平面镜2,向左不穿过PS而到平面镜1,向下到BS。……
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