基于单片机的红外测温仪设计
2011-09-06司文娟王福明
山西电子技术 2011年4期
丁 霞,司文娟,王福明
(中北大学现代教育技术与信息中心,山西太原 030051)
0 引言
红外测温技术在生产过程中,在产品质量控制和监测,设备在线故障诊断和安全保护以及节约能源等方面发挥了着重要作用[1]。用红外测温仪进行非接触温度测量有许多的优点,它的运用范围从很小或难以接触到的物体至腐蚀性的化学物和敏感的表面物。这样那些难以接触到或运动着的物体就可进行温度测量,如传热性能差的或很小的热容量材料。
1 红外基本测温原理
红外测温仪中的光学系统汇集其视场内的目标红外辐射能量。红外能量聚焦在光电探测仪上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路按照仪器内部的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。
红外线辐射是自然界存在的一种最为广泛的电磁波辐射,它是基于任何物体在常规环境下都会产生自身的分子和原子无规则的运动,并不停地辐射出热红外能量,分子和原子的运动愈剧烈,辐射的能量愈大,反之,辐射的能量愈小。因此,通过对物体自身辐射的红外能量的测量,便能准确地测定它的表面温度,这就是红外辐射测温所依据的客观基础[2]。
红外测温是利用测量物体所辐射出来的辐射能量来测量物体温度,它的理论依据是斯蒂芬-玻尔兹曼定律,物体的温度越高,它所辐射出来的能量越多[3]。当温度为T时,物体在所有波长上(物体的辐射几乎包括所有的波长)的总辐射强度W为:……p>
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