杨跃胜 ，武岳山 ，熊立志 ，田 平 ，李 曼

（1.西北大学 信息科学与技术学院，陕西 西安 710127；2.深圳市远望谷信息技术股份有限公司，广东 深圳 518057）

射频识别 RFID（Radio Frequency Identification）系统由阅读器和电子标签组成，天线是阅读器和电子标签通信的桥梁。为了使阅读器发射的射频能量最大限度地被无源标签天线所吸收，理论要求电子标签天线和标签芯片阻抗达到共轭匹配。即UHF频段无源RFID单芯片的阻抗值，直接决定着电子标签天线设计，进而影响电子标签的性能。

UHF频段无源RFID电子标签采用反射调制原理工作，其原理决定了电子标签芯片阻抗具有UHF频段、无源、时变性、非线性等复杂特性，尤其是对于尺寸不足1 mm2的单芯片，本身即存在着尺寸小、射频影响等困难，导致常规的测试方法很难准确地对电子标签芯片阻抗进行测试。本文研究了UHF无源单芯片阻抗测试方法，通过对标准芯片阻抗测试，对测试方法进行了检验。

1 测试原理

对于UHF频段无源电子标签工作特征而言，由于单芯片工作在UHF频段，通过标签芯片pad的任何引线都将产生寄生电容或者寄生电感，从而对芯片阻抗测试产生影响。同时，采用常规的测试方法，引线的长度和宽度很难把握，测试的重复性差，不利于标签芯片阻抗的准确测试。本文采用传输线阻抗匹配网络对芯片阻抗进行测试,较好地解决了实际测试中面临的接入困难等问题。

由分布参数电路理论可知，在UHF频段，传输线的宽度和长度影响着传输线特性阻抗值。……