丁斌峰，潘 峰，法 涛，成枫锋，姚淑德

（1．廊坊师范学院 物理与电子信息学院，河北 廊坊065000；2．北京大学 核物理与核技术国家重点实验室，北京100871；3．陕西理工学院 物理系，陕西 汉中723001）

1 引 言

自1896年X射线被发现以来，可以利用X射线分辨的物质系统越来越复杂．从简单物质系统到复杂的生物大分子，X射线已经为我们提供了很多关于物质静态结构的信息．此外，由于在各种测量方法中，X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，再加上晶体存在的普遍性和晶体的特殊性能以及其在计算机、航空航天、能源、生物工程等工业领域的广泛应用，人们对晶体的研究日益深入，使得X射线衍射分析成为研究晶体最方便、最重要的手段［1－2］．但是传统的X射线衍射方法，由于其X射线的强度小，使其不能精确地测定晶体结构和晶格常量．同步辐射X射 线 衍 射 （synchrotron radiation X－ray diffraction，SRXRD）技术，由于其X射线的强度大，所以不但可以精确地测定晶体的结构和晶格常量，而且还可以进行晶体的取向和外延膜应变等的研究［3］．

2 实 验

2．1 实验原理

当单色X射线束入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同的数量级，因此由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度与晶体的结构密切相关．衍射线空间方位与晶体结构的关系可……