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直流支撑电容器元件直径对其耐压影响的研究

2022-06-27孙明孙晓武

消费导刊 2022年13期
关键词:金属化耐压电容器

孙明 孙晓武

无锡市电力滤波有限公司

引言:金属化聚丙烯薄膜电容器在高压、高频、高温、大电流、小体积和长寿命方面比电解电容器具备优势。因此,金属化聚丙烯薄膜的直流支撑电容器在轨交、柔直、风电、光伏等领域被广泛应用[1-3]。

金属化聚丙烯薄膜电容器研究的主要是自愈特性、电压击穿、温度等方面[4-7]。

直径大小对直流支撑电容器元件的电压影响的研究比较少。因此,有必要进行此方面的研究。

本文介绍直流支撑电容器元件,介绍直流支撑电容器元件的自愈和击穿,介绍直流支撑电容器元件的电容和电压计算,研究直径大小影响直流支撑电容器元件的电压特性,并通过相关试验进行验证,对直流支撑电容器元件的设计和选型具有良好的指导意义。

一、直流支撑电容器元件

直流支撑电容器的元件是将两层金属化聚丙烯薄膜(以下简称“金属化膜”)卷绕在芯轴上,然后再在其两端面喷涂金属材料,作为电极。元件形状分为圆柱式、扁形。本文研究的元件为圆柱式,如图1所示。

图1 元件结构图

二、直流支撑电容器元件的自愈性和击穿特性

(一)自愈性

金属化膜中存在着少量的杂质或晶格缺陷的点,这些点的耐压强度较低,称为“电弱点”。当工作电压升高时,首先击穿金属化膜的电弱点处,此处的击穿电流在该部位产生高温和电弧,使周围金属层受热蒸发并向外扩散,形成圆形的无金属化的部分[8]。去金属化的过程一直到电弧熄灭为止,此时金属化膜绝缘恢复。这种击穿后瞬间可基本恢复金属化膜绝缘性能的特性,称为自愈性[9]。

影响金属化膜自愈的主要因素有:金属化膜材料、工作电压、电容、方阻等参数[10]。金属化膜的自愈能量用下式表示[11]。

式中:k,β1和β2是系数,Ud是工作电压,C是试品的电容,R□是金属化膜的方阻值,β(p)是电容器内部压强的函数。

(二)直流支撑电容器元件的击穿

1.固体电介质的击穿

电击穿、热击穿和电化学腐蚀是固体电介质的三种击穿形式[12]。图2为固体电介质不同击穿形式的击穿场强与电压作用的时间关系。

图2 固体介质击穿场强与电压作用时间的变化曲线

电击穿:击穿电压很高,电压作用时间很短,温度低;击穿场强高低取决于其电场均匀程度,不受周围环境温度影响。

热击穿:当某时刻介质发生的热量大于其发散的热量,介质的温度将持续上升,从而发生介质分解、炭化等现象,导致最终的介质击穿。

局部放电引起劣(老)化、局部放电、漏电痕迹、有机材料的树枝化放电劣化是电化学腐蚀的四种形式。

电压作用时间、温度、电场均匀程度、累积效应等因素会影响固体电介质电压。

2.直流支撑电容器元件的击穿

金属化膜的击穿除了遵循固体电介质的击穿的特性外,还有具自愈特性,增强了其运行稳定性,使其可以用于高电场强度的工作场合。

金属化膜电容器内部出现电弱点被击穿时存在两种情况:自愈成功;自愈失败。

如自愈成功,电弱点被清除,电容器的金属化膜绝缘恢复,从而能够正常继续运行。

如自愈失败,在高场强条件下,大量击穿(自愈失败)的金属化膜电容器普遍大面积多层金属化膜蜂窝状(或筛状)烧蚀粘连,金属化膜电容器在击穿点形成短路故障,电容器失效。

三、直流支撑电容器元件电压

(一)直流支撑电容器元件的电容

元件电容C的计算如下式

式中,ε0是真空介电常数,ε是元件金属化膜的相对介电常数,b是元件有效电极的宽度(单位mm),l是有效电极的长度(单位mm),d是金属化膜的厚度(单位µm)。

有效长度l的计算如下式

,N是金属化膜卷绕卷数,Di是第i圈元件的直径(单位mm),D0是芯棒的直径(单位mm),d是金属化膜的厚度(单位µm)。

(二)直流支撑电容器元件的电压

如图3所示的直流支撑电容器元件的极间电场是不均匀电场。

图3 元件电场

距离圆柱轴线r处的电场强度为

式中,Q为在长度为b的电极上的负荷,A为半径r(直径Dr)的圆柱等位面积。

电压U为

此时,电容元件C的计算如下式

把式(6)代入式(4),可得

从式(7)可见:

(1)元件最大场强出现在沿芯棒的第1圈,元件最小场强出现在最外卷;

(2)直径越大,元件的工作场强越小,元件能承受的耐压越低。

(3)直径越小,元件的工作场强越高,元件能承受的耐压越强。

四、试验验证

(一)概述

使用相同材料制作不同的直径的元件和电容器,进行电压性能试验。极间电压试验可以反映元件的电击穿能力。长时间电压试验可以反映热击穿能力。由于元件使用场合为直流回路,有一定的纹波电压,但不足以产生局部放电,故本文不研究电化学腐蚀。

因此,试验方案确定为:

(1)相同材料的金属化薄膜,生产5种不同直径的元件进行电压极限耐压试验;

(2)相同材料的金属化薄膜,生产3种电容器进行耐久性试验。

(二)试品情况

金属化薄膜规格为5×75×2.5(µm×mm×mm),高方阻结构,加厚边2~4Ω/□,活动区25~40Ω/□。

试品元件为圆柱形。元件直径DN尺寸分别为25mm、50mm、75mm、105mm、125mm,元件芯棒直径D0尺寸为9mm。

试品电容器型号规格分别为:DJMJ1.2-600、DJMJ1.2-1200、DJMJ1.2-1500,编号分别为1#、2#、3#。电容器的元件直径DN尺寸分别为75mm、105mm、125mm,元件芯棒直径D0尺寸为9mm。

(三)试验方案

1.极间极限耐压

各取2只元件做此项试验。对试品逐级施加直流电压,维持5min,直至电容器完全失效为止。

电容测试仪用在室温下,用100Hz、1Vrms 档位测量试验前后的电容和损耗角正切。

2.耐久性试验

各取1台电容器做此项试验。试品置于恒温干燥箱中,加热到70℃,施加1.4UN=1680Vdc,连续250小时,然后取出电容器进行1000次充放电,放电电流为5kA),接着再放入恒温干燥箱加温至70℃,施加1.4UN=1680Vdc,连续250小时,待电容器冷却48小时后测电容和损耗角正切值,△C≤3%,tanδ值应予记录。

(四)试验结果

极间极限耐压试验数据见表1~2。耐久性试验数据见表3。

表1 极间极限耐压试验数据1

表2 极间极限耐压试验数据2

表3 耐久性试验数据

从表1~2中可知:

(1)直径25mm的元件,耐压3400Vdc,元件容量分别下降到0.04μF、0.06μF,开路现象;

(2)直径50mm的元件,耐压3200Vdc,元件容量分别下降15.82μF、37.92μF,元件外包被炸开;

(3)直径75mm的元件,耐压3000Vdc,元件容量分别下降4.7μF、5.1μF,元件外包被炸开;

(4)直径105mm的元件,耐压2800Vdc,元件容量分别下降3.5μF、4.2μF,元件外包被炸开;

(5)直径125mm的元件,耐压2700Vdc,元件容量分别下降2.1μF、2.9μF,元件外包被炸开。

从表3中可知:

(1)耐久性试验500小时后,1#电容器(元件直径75mm)的电容变化为+0.25%;

(2)耐久性试验500小时后,2#电容器(元件直径105mm)的电容变化为-0.17%;

(3)耐久性试验500小时后,3#电容器(元件直径125mm)的电容变化为-0.28%。

(五)结果分析

依据表1~3数据来分析:

(1)直径25mm、50mm、75mm、105mm、125mm的元件,击穿电压数值依次降低;

(2)直径50mm、75mm、105mm、125mm的元件,都出现元件外包被炸开的现象;

(3)耐久性试验后,1#电容器的电容变化为+0.25%;

(4)耐久性试验后,2#、3#电容器的电容变化分别为-0.17%、-0.28%。

综上分析,直径影响直流支撑电容器元件的电压性能:

(1)相同的金属化薄膜,元件直径变大,击穿电压能力变低;

(2)相同的元件,元件最外圈,耐电压能力最差;

(3)相同的金属化薄膜,元件直径变大,长时间耐电压能力变低。

五、结语

本文介绍直流支撑电容器元件,介绍直流支撑电容器元件的自愈和击穿,介绍直流支撑电容器元件的电容和电压,研究直径影响直流支撑电容器元件的电压特性,并通过相关试验进行验证,得出结论如下:

(1)相同的金属化薄膜直径越大,元件的工作场强越小,元件能承受的耐压越低。

(2)元件最大场强出现在沿芯棒的第1圈,元件最小场强出现在最外卷;

(3)相同的金属化薄膜,元件直径变大,击穿电压能力变低;

(4)相同的元件,元件最外圈,耐电压能力最差;

(5)相同的金属化薄膜,元件直径变大,长时间耐电压能力变低。

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