任金芬

摘 要：在科学技术不断完善的今天，电子技术广泛的深入到了各个行业当中，电子技术产品也不断为人类提供十分便捷的服务，其性能和精确度都在不断提升，电子天平就是一种应用较为广泛的电子设备，为了能够保证电子天平使用时的准确度，必须在使用之前进行检定，本文正是针对电子天平检定中遇到的问题，考虑后续的电子天平维护工作，希望能够指导电子天平检定工作的实践。

关键词：电子天平 检定 问题 实施策略

一、前言

天平最初是以机械结构诞生在人类历史中，其精准度随着机械加工的能力在不断提高。后期出现的电子技术由于具有较高的准确度，被引入到天平的设计当中，并逐步取代了传统机械天平的使用，成为了天平的主力军，被引入到精准度较高的行业当中。电子天平的标定工作是其正常工作的前提，因此无论是哪个行业在使用电子天平之前都需要进行检定工作。

二、现阶段电子天平检定工作中遇到的问题和原因

由于电子天平的检定工作是保证其正常工作的基础，因此必须严格按照电子天平的检定流程开展工作，检定工作过程中会遇到一些问题，这些问题将导致电子天平在使用中的准确度降低，需要细致分析其原因，并在今后的工作中予以避免。

对于问题的总结如下：最首要的问题是砝码选择不当。砝码的选择直接决定了电子天平计量的能力和精确度，电子天平的标准砝码有各种重量，在选择时遵循的原则是标准砝码不超过电子天平载荷下最大允许误差的三分之一，为了保证量程适应电子天平的最大量程范围，进行电子天平检定时应依照最大称量和检定标尺分度值来选择适当的砝码。另一个问题就是关于电子天平的免检。电子天平免检的标准是d≤1mg或e≠d，还有一种情况就是带有数字指示或者具有自动或半自动校准的电子天平也可以免检。只有遵循这样的免检原则才能够避免进行多余的劳动，也能够防止出现遗漏。此外需要关注的就是明确电子天平的读数时间。从电子天平的原理看其稳定范围与稳定示值之间呈现反比例关系，也就是说在使用电子天平的时候，必须保持一段时间以达到稳态才能够进行读数，否则一旦电子天平的示数会不断跳动，无法准确读取称量物品的重量。但是由于电子显示会存在一定的滞后特性，即使电子示数不出现跳动，也可能并未达到稳态，需要有耐心的等待一段时间，这就说明从电子天平的示数读取来讲，需要等待足够的时间，这个时间的长短取决于电子天平的稳定范围和检定分度值，电子天平的读数时间确定后就应该统一，避免读数上的偏差。

对于检定过程中出现问题的原因分析。电子天平的检定工作受到很多因素的制约，其中检定的环境因素、人为因素、预热时间等都将影响到检定的成效。存放时间是所有检定影响因素中最重要的因素，检定的标准程序中要求电子天平开箱存放一天以上才能够进行检定，这样是为了保证天平内部和外部环境同时达到平衡。

三、如何维护和保养检定后的电子天平

由于电子天平在很多行业中具有重要的应用，且精确的电子天平价格也十分贵重，如何保证电子天平在长期使用中正常工作就变得十分重要，经过检定的电子天平还需要做好后续的维护和保养，这样才能够延长其稳定使用的时间，确保电子天平的使用精度，具体可以通过以下的方式开展实践活动：

1.从电子天平的使用环境入手做好日常的维护工作，保证电子天平的使用环境清洁干净，防止尘土影响电子天平的使用精度，对于电子天平的表面尘土需要仔细进行清理。

2.使用电子天平的时候，应该做好使用前检查，如果有任何损坏问题都应该及时处理，避免影响使用。

3.除了对电子天平本身的完整性还需要检查天平的准确性，利用其他砝码进行天平称量的检测，对于有偏差的情况就需要进行调整。

4.使用过程中需要及时进行校准，保证长时间使用中的灵敏度。

5.如果暂时不用电子天平，就需要做好保存工作，避免由于长期存放积存大量灰尘。

6.还需要明确电子天平的测量范围，避免由于过载使用导致天平破坏。

7.电子天平的储存、使用和管理都需要有专业人员进行，不能随意使用和放置。还需要定期进行检查和维护。

8.任何电子天平使用前都需要使用人员了解试用说明，避免造成对电子天平的损害。

9.电子天平使用后需要检查，合格后妥善存放存放。

四、结论

通过本文上述分析可以看出，电子技术的不断发展使得电子天平越来越精确，相应的电子天平检定工作也要求越来越高，检定工作中存在的问题需要予以注意并进行防范，除了电子天平的检定工作需要更加严格的标准和专业的操作，电子天平的使用者也应该重视合规操作，保证电子天平的精确测量结果，维护好电子天平的长期使用稳定性。

参考文献：

[1] 张国恒. 电子天平检定中的问题探讨. 计量与测试技术[J]， 2013， 40（8）：11-11.

[2] 孙志优. 对电子天平检定与校正的探讨. 科技创业家[J]， 2012（24）.

[3] 张景亮. 电子天平检定相关问题的探讨. 黑龙江科技信息[J]， 2014（1）：113-113.

[4] 陈燕琼. 探讨电子天平检定的问题. 科技展望[J]， 2016（1）.